相控陣探傷儀通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。
相控陣檢測(cè)是一種超聲檢測(cè)技術(shù)。它使用復(fù)雜的多晶片陣列探頭及功能強(qiáng)大的軟件來(lái)操控高頻聲束，使其通過(guò)被檢測(cè)材料，并顯示**（或幾何校正）的回波圖像。所生成的材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像類(lèi)似于醫(yī)用超聲波圖像。對(duì)諸如關(guān)鍵金屬結(jié)構(gòu)、管道焊接、航空航天復(fù)合材料等的檢測(cè)，相控陣技術(shù)所提供的附加信息是有價(jià)值的。
相控陣技術(shù)生成超聲波束，這些超聲波束的參數(shù)，如：角度、聚焦范圍和焦點(diǎn)尺寸等，可以通過(guò)軟件進(jìn)行控制。而且，聲束可在一個(gè)很長(zhǎng)的陣列上被多路切換。這些特點(diǎn)為相控陣技術(shù)增加了一系列新的應(yīng)用功能。例如，在掃查工件時(shí)，可以不移動(dòng)探頭本身而快速改變聲束角度。相控陣還可以代替多個(gè)探頭以及機(jī)械部分。以可以 變換角度的聲束檢測(cè)部件，可以充分發(fā)揮檢測(cè)性能、優(yōu)化信噪比，而不用考慮缺陷方向。
相控陣探傷儀技術(shù)特點(diǎn)：
1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；
2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；
3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)；
4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高；
5、掃查裝置簡(jiǎn)單，便于操作和維護(hù)；使用更便捷，對(duì)人體無(wú)傷害，對(duì)環(huán)境無(wú)污染；
6、可以節(jié)省許多成本費(fèi)用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動(dòng)生成圖文缺陷報(bào)告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報(bào)告到數(shù)據(jù)中心查閱。
7、檢測(cè)結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作。
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